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RECHERCHE

                                                                                                                                                   Un nouveau microscope
                                                                                                                                                   pour le laboratoire central

                                                                                                                                                   L’analyse, base de l’assurance qualité et du
                                                                                                                                                   développement des matériaux

PROCÉDÉS DE FABRICATION – CONSTRUCTION DE MACHINES – TECHNOLOGIE & DÉVELOPPEMENT DE PRODUITS – NOUVELLES         Le nouveau microscope électro-    C hez SCHERDEL, le laboratoire              la rupture, le type de rupture (rupture
                                                                                                                 nique à balayage permet une ana-         central et la recherche fondamen-    brusque, rupture de fatigue), sa locali-
                                                                                                                 lyse détaillée des structures.    tale jouent un rôle essentiel eu égard      sation et sa taille, sa microstructure et
                                                                                                                                                   au service clientèle. Comme en té-          son tracé. Dans l’analyse de surface, le
                                                                                                                Equipement technique               moigne d’ailleurs l’effort de recherche     MEB fournit des conclusions fiables sur
                                                                                                                MEB                                et de développement consenti par l’en-      la structure du grenaillage, la topogra-
                                                                                                                                                   treprise, estimé entre 5 et 6% du chiffre   phie, la microstructure, les dépôts, les
                                                                                                                • Cathode : tungstène              d’affaires annuel. On comprend donc         variations géométriques, les revête-
                                                                                                                • Vide poussé et vide va-          pourquoi les équipements de contrôle        ments de surface et leur épaisseur.
                                                                                                                                                   et de laboratoire de l’entreprise sont      L’analyse dite métallographie microsco-
                                                                                                                  riable jusqu’à 650 Pa            toujours à la pointe de la technologie.     pique met en évidence les structures et
                                                                                                                • Détecteurs : SE, LVSE,           Dans le développement des matières,         les microstructures. Le MEB est aussi
                                                                                                                                                   l’analyse des dommages et les ana-          utilisé pour l'analyse de la propreté
                                                                                                                  BSE 5 segments, EDX,             lyses spécifiques, les contrôles d’assu-    technique des composants, moyennant
                                                                                                                  caméra IR                        rance qualité ou encore l’analyse des       l’analyse géométrique et chimique des
                                                                                                                • Tension d’accélération :         matières, la microscopie électronique à     particules. Autre possibilité importante :
                                                                                                                  0,3 à 30 kV                      balayage est extrêmement importante.        l’évaluation qualitative de la composi-
                                                                                                                • Résolution : 3 nm                L’installation existante étant à bout de    tion élémentaire, les chercheurs s’inté-
                                                                                                                • Platine porte-échantillons       souffle, l’acquisition d’un nouvel appa-    ressant essentiellement à l'évaluation
                                                                                                                  pouvant accueilir un objet       reil a permis d’améliorer considérable-     des inclusions, des dépôts, des parti-
                                                                                                                  de 200 mm de longueur,           ment les conditions de travail au labo-     cules et de la corrosion. Le MEB per-
                                                                                                                  platine porte-échantillons       ratoire central.                            met aussi d'analyser des échantillons
                                                                                                                  eucentrique motorisée sur                                                    ne conduisant pas l’électricité – ma-
                                                                                                                  les 5 axes                        Rappelons brièvement le principe de
                                                                                                                • Commande intuitive par           fonctionnement d’un microscope élec-        Le laboratoire central fournit des informations dé-
                                                                                                                  bandeau de commande,             tronique à balayage (MEB) : un fais-        cisives sur le développement des matières, l'as-
                                                                                                                  joystick, track-ball et cla-     ceau d’électrons balaie la surface de la    surance qualité et l’analyse des dommages.
                                                                                                          4 vier                                   pièce. Les interactions détectées entre
                                                                                                                                                   les électrons et la matière servent à for-  tières synthétiques, céramiques ou re-
                                                                                                                                                   mer des images. Les électrons secon-        vêtements non métalliques. Le nouveau
                                                                                                                                                   daires, les électrons rétrodiffusés et les  MEB est capable de mesurer des struc-
                                                                                                                                                   rayons X caractéristiques font partie       tures jusque dans le domaine du nano-
                                                                                                                                                   des signaux les plus importants. Sur la     mètre et sert aussi à analyser des com-
                                                                                                                                                   base des électrons secondaires, les         posants relativement grands d’un dia-
                                                                                                                                                   images MEB caractéristiques de la sur-      mètre pouvant atteindre 200 mm et
                                                                                                                                                   face de la matière sont délivrées avec      d’une hauteur de 80 mm. L’investisse-
                                                                                                                                                   une profondeur de champ maximale et         ment dans ce nouvel équipement a
                                                                                                                                                   un fort grossissement. Le mode BSE          aussi été calculé au plus juste puisque
                                                                                                                                                   avec électrons rétrodiffusés permet de      le détecteur EDX préexistant a pu être
                                                                                                                                                   distinguer les éléments de masse diffé-     intégré à la nouvelle installation.
                                                                                                                                                   rente, raison pour laquelle il est aussi
                                                                                                                                                   désigné « mode de contraste ». Moyen-                                                               (gtn/dk)
                                                                                                                                                   nant l'analyse rayons X dispersive en
                                                                                                                                                   énergie (EDX), il est également pos-
                                                                                                                                                   sible de déterminer la composition des
                                                                                                                                                   éléments de l’échantillon sur le plan
                                                                                                                                                   qualitatif.

                                                                                                                                                    Le champ d’application de ce nouveau
                                                                                                                                                   microscope électronique à balayage
                                                                                                                                                   installé chez SCHERDEL est extrême-
                                                                                                                                                   ment varié. Lors d’une rupture de ma-
                                                                                                                                                   tière, il permet d’analyser le départ de
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